菲希爾代理FISCHER X-RAY XDL230的詳細資料：

菲希爾代理FISCHER X-RAY XDL230

 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

比例接收器能實現計數率

由于采用了FISCHER基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

通用規格

設計用途能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定鍍層和溶液分析。

元素范圍從元素氯（17）到鈾（92）

配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，可同時測定24種元素

設計理念臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向由上往下

X射線源

X射線管帶鈹窗口的鎢管

高壓三檔：30KV，40KV，50KV

孔徑（準直器）φ0.3mm　可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm

測量點尺寸取決于測量距離及使用的準直器大小

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

小的測量點大小約φ0.2mm