菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240

用途廣泛：適用于多種鍍層厚度測量場景。

靈活測量：通過組合可選的高壓和濾片，對較薄鍍層（如 50 nm Au 或 100 μm Sn）與較厚鍍層均可實現同等效果測量。

微小測量：配備微聚焦管，可精準測量 100 μm 大小的微小測量點。

高效計數：比例計數器能實現數千 cps（每秒計數率）的高計數率。

便捷操作：采用從下至上的射線方向，樣品放置快速簡便。

大容量艙：底部 C 型開槽的大容量測量艙，方便容納更多樣品。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240典型應用領域

線路板工業：測量 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 中的鍍層。

電子行業：檢測接插件和觸點上的鍍層。

裝飾領域：用于裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 的測量。

電鍍工業：測量大規模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層 Zn/Fe，ZnNi/Fe 等電鍍鍍層。

珠寶鐘表行業：適用于珠寶和鐘表工業的鍍層測量。

電鍍液分析：可測量電鍍液中金屬成分含量。